Поверка рефлектометра оптического VISA X-PRO

Принцип действия рефлектометра основан на зондировании волоконно-оптической линии последовательностью коротких оптических импульсов и измерении сигналов: отраженных от неоднородностей и сигнала обратного рассеяния, т.е. сигналов френелевского отражения и релеевского рассеяния. В результате обработки этих сигналов на дисплее прибора формируется рефлектограмма зондируемого световода, показывающая распределение ослабления по его длине и индицирующая наличие стыков и обрывов. Поверка рефлектометра оптического VISA X-PRO проводится в аккредитованной лаборатории АНК и занимает от 1 до 5 дней.

Рефлектометр позволяет проводить измерения ослабления и длины до мест неоднородностей, определение потерь в сростках для одномодового оптического волокна методом обратного рассеяния.

Конструктивно рефлектометр состоит из двух модулей: X-PRO — управляющий модуль, VISA USB — измерительный. С помощью управляющего модуля X-PRO осуществляется управление, анализ, формирование отчетов, сохранение в памяти результатов измерений с возможностью их просмотра и последующей передачи. Измерительный модуль VISA USB выполнен в прямоугольном ударопрочном корпусе. На торцевых панелях измерительного модуля расположены: розетка типа FC для подключения оптического волокна, снабженная защитным колпачком; разъем USB, предназначенный для связи с управляющим модулем и светодиодные индикаторы, отображающие режимы работы модуля. Связь между управляющим модулем X-PRO и измерительным модулем VISA USB осуществляется через соединительный кабель USB, входящий в комплект поставки.

Для ограничения доступа внутрь оптического модуля производится пломбирование в области крепежных винтов.

Поверка рефлектометра оптического VISA X-PRO, особенности прибора:

Оптический рефлектометр VISA X-PRO на мощной измерительной платформе
со сменными оптическими модулями на 1, 2 и 3 длины волны.
Платформа с предустановленным измерителем оптической мощности 1310/1550 нм и VFL 650 нм оборудована сенсорной панелью, дублирующей функции кнопочной панели прибора:

• ОС: Windows Embedded Compact 7 / Процессор Cortex-A8 800 МГц;
• DDR2 256 Мб / SD память 4 Гб;
• Ethernet 100/10M / 2 x USB 2.0 (Host+Device);
• Цветной LCD 800×600, резистивный TouchScreen.

Сменные модули SM: 1310/ 1490/ 1550/ 1550 F+/ 1625 F+/ 1650 F+.
Сменные модули легко устанавливаются и извлекаются из оптического рефлектометра.
Это придает оптическим рефлектометрам VISA X-PRO исключительную гибкость и экономичность.

Основные средства поверки:

1 Рабочий эталон единиц длины и ослабления в световоде.
Основные метрологические характеристики:
Рабочие длины волн оптического излучения: 1310±30 нм, 1550±30 нм. Диапазон воспроизведения длины: 0,06 ч 500 км. Пределы допускаемой основной абсолютной погрешности при воспроизведении длины: ∆=± (0,15+1·10-6L), где L – воспроизводимая длина.
Диапазон измерений вносимого ослабления: 0 ч 20 дБ.
Пределы допускаемой основной абсолютной погрешности при измерении вносимого ослабления: ∆≤0,015·A, где А – измеряемое вносимое ослабление.
Длительность зондирующих импульсов (в единицах длины):
– при проверке шкалы длин 6, 30, 100, 300, 1 000, 3 000 м;
– при проверке шкалы ослаблений 200, 600, 1 000, 2 000, 5 000 м.

2 Рабочий эталон единицы средней мощности оптического излучения в волоконно-
оптических системах передачи РЭСМ-ВС.
Основные метрологические характеристики:
Рабочий диапазон длин волн спектральной установки: 600 ч 1700 нм;
Пределы допускаемой основной абсолютной погрешности градуировки монохроматора по шкале длин волн: ±1 нм.

3 Осциллограф цифровой запоминающий WaveJet 352 (ГР № 32488-06).
Основные метрологические характеристики: Диапазон измерений: 0 — 500 МГц.
Погрешность измерений: ±1,5 %.