Описание промышленной пленки FUJIFILM IX-80
Тип материалов: Рентгеновская пленка, радиографическая пленка, рентген пленка
Производитель: FUJIFILM, Япония
Серия: FUJI
Модель: IX-80
Пленка ASTM класса Ι с исключительно мелким зерном и высокой контрастностью подходит для обнаружения мелких дефектов. Она пригодна для исследования материалов с низким атомным числом с помощью источников рентгеновского излучения низкого напряжения, а также для исследования материалов с более высоким атомным числом с помощью источников рентгеновского или гамма-излучения с высоким напряжением.
Продемонстрирован широкий диапазон экспозиции в областях с высокой контрастностью объекта. IX80 обычно используется с прямым экспонированием или свинцовыми экранами.
Технические характеристики радиографической пленки FUJIFILM IX-80
|
Относительная чувствительность*:
|
100KV с прямым экспонированием 55 200KV со свинцом 55 Ir-192 со свинцом 55 Co-60 со свинцом 55
|
|
Класс пленки*:
|
ASTM E1815-96 I ISO 11699-1 C4 JIS K7627 T2
|
|
Листы:
|
без прокладок
|
|
Возможные варианты упаковки:
|
Листы NIF, IL, EPAK, EPPB Рулоны NIF, EPAK, EPPB
|
|
Применение
|
Сварные швы, отливки: металлы с небольшим или средним атомным числом, производство и обслуживание самолетов, углепластиковые композиты
|
|
Расходные материалы:
|
Химия: проявители AUDEL, MAN-X DEV, фиксажи AUFIX, M-Fix.
|
|
Безопасность
|
изделие не является вредным (опасным) для здоровья потребителей, а также безвредно для окружающей среды
|
|
Прочие аксессуары:
|
IX-80 предлагается со свинцовыми экранами и без них
|
