Описание атомно-абсорбционного спектрометра contrAA
Атомно-абсорбционные спектрометры серии contrAA® — это единственные доступные на рынке атомно-абсорбционные спектрометры высокого разрешения с источником сплошного спектра. Это связующее звено между традиционным ААС и ИСП-ОЭС, объединяющее лучшие качества обоих методов: простоту и доступность ААС и скорость ИСП-ОЭС.
Атомно-абсорбционные спектрометры серии contrAA® обладают значительными аналитическими преимуществами по сравнению с традиционными ААС с линейными источниками спектра. Использование короткодуговой ксеноновой лампы, которая создает высокоинтенсивное излучение в сплошном спектре, позволяет определять все элементы, металлы и неметаллы, на любой длине волны с использованием всего одной лампы. Оптическая система и CCD-детектор создают спектр абсорбции высокого разрешения для каждой пробы. Спектр высокого разрешения позволяет получать исчерпывающую и подробную информацию о пробе. Отображение спектра в трехмерном формате значительно упрощает разработку метода.
Быстрый одновременный и последовательный многоэлементный анализ, включая полуколичественный анализ неизвестных образцов металлов и неметаллов, на атомно-абсорбционном спектрометре contrAA® еще больше расширяет возможности прибора.
Современные алгоритмы коррекции фона и спектральных наложений позволяют получать еще более точные аналитические данные методом ААС.
Серия contrAA® 800 — новейшая технология для отличных результатов:
- мультиэлементный анализ: один источник света для быстрого последовательного и параллельного многоэлементного анализа;
- оптика высокого разрешения: низкий уровень шума, превосходная точность, низкие пределы обнаружения;
- спектр высокого разрешения: 3D-спектр в высоком разрешении позволяет получить максимум информации;
- динамический режим: расширенный диапазон измерения вплоть до пятого порядка.
Технические характеристики
| Отраслевое применение | Полимеры и пластмассы Пищевая продукция, корма Почва и геологические породы Экологические объекты Материалы металлургического производства Материалы полупроводникового производства |
| Пределы обнаружения | ppm – 100’s ppt |
| Количество элементов в пробе | 10-50 |
| Количество проб в день | 1-100 |
| Уровень TDS, г/л | до 100 |
| Тип анализа | Мультиэлементный |
| Использование HF при разложении проб | Нет |
| Анализ As, Se, Sb, Hg,Bi, Te и гидрид-образующих элементов | Да |
